扫描电镜sem

2019-08-09 15:22

关于OM和SEM的区别

SEM是扫描电子显微镜。


扫描电镜sem

电子扫描显微镜(SEM)的工作原理???

扫描电子显微镜是使用聚焦电子束对样品表面进行逐点扫描成像。样品是块状或粉末状颗粒,成像信号可以是二次电子,背向散射电子或吸收的电子。其中,二次电子是最重要的成像信号。电子枪发射的电子为5至35keV,交叉点用作电子源。二次电子束和物镜被还原以形成具有一定能量,一定光束强度和束斑直径的精细电子束,其由扫描线圈驱动。以一定的时间和空间顺序在样品的表面上执行网格型扫描。聚焦电子束与样品相互作用以产生二次电子发射(和其他物理信号),二次电子发射量随样品的表面形貌而变化。二次电子信号由检测器收集并转换成电信号。在通过视频放大之后,将其输入到显像管的栅极,并且调制与入射电子束同步扫描的显像管的亮度,以获得反映样品的表面形貌的二次电子图像。

示意图:


关于OM和SEM的区别电子扫描显微镜(SEM)的工作原理???

谁能给我讲解一下SEM和TEM的区别,详细一点

主要区别在于:SEM是通过反射来收集信号TEM是通过传输

1收集信号,样品性质必须是固体,干燥,无油,并且尽可能导电。 TEM获得材料截面的形态,sem获得材料或截面的表面形态。透射电子显微镜无法看到表面形貌,扫描电子显微镜观察到的横截面或表面的微观结构可以间接地表征材料内部某一部分的微观结构。 TEM分辨率高,可以观察到原子晶格图像。扫描电子显微镜具有低分辨率,并且只能代表由数十或数百个原子形成的纳米相 - 可以称为晶粒或官能团。 2,扫描电子显微镜制备简单,可直接观察样品的表面或截面; TEM样品制备复杂而精细,使用特殊的样品制备设备必须将材料制备成几微米甚至100nm的厚度3,材料有表面,所有方位角了解材料的微观结构需要从低到高的表征。

介孔Pt纤维。左边是场发射扫描电子显微镜,高分辨率扫描电子显微镜或透射电子显微镜拍摄的照片。

房东看到使用上的差异?

照片a只能通过扫描查看,而不能通过传输查看。照片b和c是照片a中可以扫描或传输的光纤!不同但非常相似

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